RNDr. Miroslav Přibáň (ACES, Volyně)
V rámci semináře bude představena metoda Akustické emise (AE) s důrazem na její aplikaci v rámci provozních kontrol kovových konstrukcí. Seminář bude rozdělen na část teoretickou, ve které bude důraz položen na fyzikální principy jevu-vzniku AE, mechanismy zdrojů AE v kovech, přenos akustických vln tělesem, základy měřicí techniky a způsoby zobrazení a vyhodnocení detekované AE jak v laboratoři, tak v průmyslové praxi. V prakticky orientované části přednášky bude hlavní pozornost věnována aplikaci metody AE v rámci provozních prohlídek konstrukcí s důrazem pochopení role metody AE, jež je odlišná od role standardních NDT metod. Cílem bude ukázat jak přínosy, tak i omezení metody. Budou prezentovány základní typy aplikací AE, jejich standardní výstupy a konečně začlenění těchto výstupů do obecnější úlohy zajištění bezpečnosti a spolehlivosti provozu kovových konstrukcí (tlakových zařízení).
Ing. Jaroslav Lepka (Freescale Polovodiče)
Ing. Pavel Grasblum, Ph.D. (Freescale Polovodiče)
Dvoudenní kurz bude zaměřen na digitální spínané zdroje. Řešena bude jak problematika teoretických základů spínaných zdrojů, tak i prakické otázky programování SW spínaného zdroje.
prof. Ing. Vladimír Kučera, DrSc., dr.h.c. (ČVUT v Praze)
Ing. Lukáš Ferkl, Ph.D. (ČVUT v Praze)
Ing. Jiří Cigler (ČVUT v Praze)
Cílem semináře je přiblížit posluchačům teorii lineárních systémů, především autonomní systémy, modelování, statistickou identifikaci a prediktivní regulaci se zaměřením na aplikace při řízení budov.
Ing. Roman Vala (National Instruments)
Cílem semináře je seznámit účastníky s možnostmi návrhu elektronických obvodů, jejich simulací a následným ověřením jejich funkce s reálným zapojením. Návrh a simulace bude prováděno v SW Multisim. Ověření funkce obvodu bude realizováno jak na SW přístrojích, které jsou součástí Multisimu tak i na vytvořených virtuálních přístrojích. Návrh virtuálních přístrojů bude realizován v SW LabVIEW. Seminář bude probíhat formou praktického cvičení na platformě NI ELVIS.
ing. Mgr. Branislav Rehák, Ph.D. (ÚTIA AV ČR, Praha)
Ing. Michala Vaníková, Ph.D. (Quality Centrum spol. s r.o., Písek)
Cílem semináře je seznámit posluchače se zaváděním systému managementu kvality dle mezinárodní normy ISO/IEC 17025 do zkušebních laboratoří. Budou zde vysvětleny požadavky na management a technické požadavky, které musí zkušební laboratoře splnit, aby získaly akreditaci svého pracoviště. Součástí semináře budou i praktické zkušenosti při tvorbě systémové dokumentace, kterou je nezbytné předložit akreditačnímu orgánu.
Prof. Ing. Michael Šebek, DrSc. (FEL ČVUT a PolyX, s.r.o., Praha)
Seminář seznámí posluchače s problematikou 2-D prostoro-časových systémů, jejich modelování a řízení pomocí polynomiálních metod. Použití těchto metod bude ilustrováno na příkladu automatické řízení kolony robotických vozidel nebo aut v budoucích automatických dálničních systémech.
JUDr. Pavel Koukal, Ph.D. (Masarykova univerzita)
Seminář bude věnován aktuálním problémům autorského práva, vývoji rozhodovací činnosti Soudního dvora EU v posledních dvou letech, diskusím kolem Dohody ACTA, autorskoprávním aspektům vědecké tvorby a právům duševního vlastnictví v kontextu zákona č. 130/2002 Sb.
Ing. Jiří Vrba (auditor, soudní znalec, AUDITIA, s.r.o.)
Seminář bude zaměřen především na základní principy vedení účetnictví různých typů organizací a souvislosti s problematikou daní. Pozornost bude věnována rovněž otázce zpracování "cash-flow". Problematika bude demonstrována na typických příkladech z praxe.
Prof. Ing. Karel Hájek, CSc. (Univerzita obrany, Brno)
Seminář je zaměřený na systémy s analogovým předzpracováním signálů, což je většina měřicích, regulačních a dalších elektronických systémů. Citlivost těchto systémů bývá do značné míry ovlivněna vlastnostmi řetězce analogového předzpracování. Cílem semináře je ukázat hlavní problémy omezující tuto citlivost a kromě obecného rozboru různých typů řetězce analogového předzpracování bude seminář zaměřen hlavně na snižování šumu či ofsetu předzesilovačů v závislosti na vnitřní impedanci senzorů (složka odporová, kapacitní, induktivní).