Ing. Roman Vala (National Instruments)
Ing. Jiří Keprt, Ph.D. (National Instruments)
Moderní měřicí systémy jsou v dnešní době stále více kombinací HW a SW, vznikají tzv. virtuální měřicí systémy, mluvíme někdy též o virtuální instrumentaci. Uživatel si může s pomocí univerzálního hardware (např. vstup-výstupních modulů) a odpovídajícího software vytvářet přístroje a měřicí systémy s přesně definovanými vlastnostmi a není tak omezen jako dřív pouze na funkce, implementované výrobcem konkrétního přístroje. Za předpokladu, že metrologické nároky na HW se nezvyšují, je změna funkčních vlastností systému řešena obvykle pouze na úrovni změny SW, tzn. bez dalších dodatečných nákladů.
Cílem semináře je podat přehled aktuálních trendů v této bouřlivě se rozvíjející oblasti, zejména s ohledem na zpracování signálu ze snímačů, zpracování obrazu, měření a generování vf signálů, robotiku.
Ústav automatizace a měřicí techniky
FEKT VUT v Brně
Kolejní 2906/4
612 00 Brno
(seminární místnost E-109)
Na seminář je nutné se předem registrovat. Přihlášky na seminář zasílejte prostřednictvím tohoto formuláře. Registrace bude uzavřena 11.2.2010 v 14.00 hod.
Příloha | Velikost |
---|---|
pozvanka_08_1002.pdf | 51.94 KB |
prezentace_08_1002_1.pdf | 1.02 MB |
prezentace_08_1002_2.pdf | 3.54 MB |
prezentace_08_1002_3.pdf | 3.98 MB |
prezentace_08_1002_4.pdf | 2.7 MB |
prezentace_08_1002_5.pdf | 2.65 MB |