Měřicí systémy

Seminář Testování dynamických vlastností digitalizátorů spojitých signálů

Lektor: 

doc. Ing. Josef Vedral, CSc. (ČVUT FEL)
prof. Ing. Vladimír Haasz, CSc. (ČVUT FEL)
doc. Ing. Jaroslav Roztočil, CSc. (ČVUT FEL)

Datum akce: 
Pátek, 21. Září 2012 - 9:00 - 17:00

Digitalizátory spojitých signálů jsou v současnosti nedílnou součástí většiny moderních elektronických systémů v měřicí technice, diagnostice, automatizaci, robotice, telekomunikaci, radiotechnice a lékařské elektronice. Protože kvalita číslicového zpracování signálů je v těchto systémech určena zejména parametry digitalizátorů, je problematika jejich testování vysoce aktuální, o čemž svědčí též vydané standardy IEEE STd. 1057, IEEE Std. 1241. Cílem semináře je seznámit posluchače se současným stavem a moderními trendy v oblasti testování digitalizátorů spojitých signálů. 

Vývoj aplikácií v LabVIEW pre meracie úlohy s CompactRIO systémami

Lektor: 

Ing. Mgr. Márk Jónás (ANV s.r.o., Bratislava)
Ing. Zuzana Petráková (ANV s.r.o., Bratislava)
Mgr. Silvia Mókosová (ANV s.r.o., Bratislava)
Ing. Gregor Izrael, PhD. (ANV s.r.o., Bratislava)

Datum akce: 
Pondělí, 13. Srpen 2012 - 9:00 - Středa, 15. Srpen 2012 - 17:00
Datum akce: 
Pondělí, 20. Srpen 2012 - 9:00 - Pátek, 24. Srpen 2012 - 17:00

Cieľom kurzu je poskytnúť záujemcom ucelený blok programovania v LabVIEW pre použitie pri programovaní CompactRIO systémov. LabVIEW je grafický programovací jazyk ktorého zvládnutie je nutným predpokladom k vývoju aplikácií pre CompactRIO systémy. Kurz sa zaoberá vývojom aplikácií v LabVIEW a využitím CompactRIO systémov pre meracie aplikácie, ako napr. pridanie nových V/V bodov nebo prepojenie s hardvérom tretích strán. 

Základy práce a programovania CompactRIO systémov pre meracie aplikácie

Lektor: 

Ing. Mgr. Márk Jónás (ANV s.r.o., Bratislava)

Datum akce: 
Pátek, 29. Červen 2012 - 9:00 - 17:00

Cieľom kurzu je poskytnúť záujemcom ucelený rámec pre vývoj aplikácií pre CompactRIO systémy. CompactRIO systémy sa skladajú z real-time kontroléra, programovateľného hradlového poľa a viacerých špecifických V/V modulov. Kurz sa zaoberá základmi vývoja aplikácií pre jednotlivé súčasti systémov CompactRIO a transferu dát z a do riadiaceho počítača. 

Seminář Vybrané problémy metrologie fyzikálních a elektrických veličin

Lektor: 

Mgr. Martin Šíra, Ph.D. (ČMI Brno)
Ing. Věra Nováková Zachovalová (ČMI Brno)
Ing. Jan Otych (ČMI Brno)
Mgr. Jaroslav Zůda (ČMI Brno)

Datum akce: 
Pondělí, 18. Červen 2012 - 9:00 - 17:00

Moderní věda je neodmyslitelně spojena s problematikou metrologického zajištění měřených mechanických,  tepelných, chemických a elektrických veličin. Neustále se zvyšující požadavky na přesné a opakovatelné měření jsou hlavní motivací pro rychlý rozvoj používaných metod. Cílem semináře je seznámit účastníky se současným stavem metrologie vybraných veličin - teploty, hmotnosti, elektrických veličin. Dále bude na praktickém příkladu vysvětlen výpočet nejistot metodou Monte Carlo. 

Seminář Návrh, simulace a ověření elektronických obvodů na platformě NI ELVIS

Lektor: 

Ing. Roman Vala (National Instruments)

Datum akce: 
Pátek, 13. Duben 2012 - 9:00 - 17:00

Cílem semináře je seznámit účastníky s možnostmi návrhu elektronických obvodů, jejich simulací a následným ověřením jejich funkce s reálným zapojením. Návrh a simulace bude prováděno v SW Multisim. Ověření funkce obvodu bude realizováno jak na SW přístrojích, které jsou součástí Multisimu tak i na vytvořených virtuálních přístrojích. Návrh virtuálních přístrojů bude realizován v SW LabVIEW. Seminář bude probíhat formou praktického cvičení na platformě NI ELVIS.

Seminář Systém managementu kvality ve zkušebních laboratořích

Lektor: 

Ing. Michala Vaníková, Ph.D.   (Quality Centrum spol. s r.o., Písek)

Datum akce: 
Pátek, 30. Březen 2012 - 9:00 - 17:00

Cílem semináře je seznámit posluchače se zaváděním systému managementu kvality dle mezinárodní normy ISO/IEC 17025 do zkušebních laboratoří. Budou zde vysvětleny požadavky na management a technické požadavky, které musí zkušební laboratoře splnit, aby získaly akreditaci svého pracoviště. Součástí semináře budou i praktické zkušenosti při tvorbě systémové dokumentace, kterou je nezbytné předložit akreditačnímu orgánu.

Seminář Zvyšování citlivosti systémů s analogovým předzpracováním signálů

Lektor: 

Prof. Ing. Karel Hájek, CSc.   (Univerzita obrany, Brno)

Datum akce: 
Pátek, 17. Únor 2012 - 9:00 - 17:00

Seminář je zaměřený na systémy s analogovým předzpracováním signálů, což je většina měřicích, regulačních a dalších elektronických systémů. Citlivost těchto systémů bývá do značné míry ovlivněna vlastnostmi řetězce analogového předzpracování. Cílem semináře je ukázat hlavní problémy omezující tuto citlivost a kromě obecného rozboru různých typů řetězce analogového předzpracování bude seminář zaměřen hlavně na snižování šumu či ofsetu předzesilovačů v závislosti na vnitřní impedanci senzorů (složka odporová, kapacitní, induktivní).

Seminář Koherentní demodulace a její využití v měřicí technice

Lektor: 

 Prof. Ing. Stanislav Ďaďo, DrSc. (ČVUT Praha)

Datum akce: 
Pátek, 18. Listopad 2011 - 9:00 - 17:00

V měřicí technice jsou velmi rozšířené obvody pro zpracování měřicích signálů - koherentní demodulátory, známé spíše pod označením synchronní detektory, fázově citlivé detektory, cize řízené usměrňovače, lock-in zesilovače (LIA). Dovolují určit amplitudu a fázi signálu, a to i v případech signálu s amplitudou ležící hluboko pod úrovní rušení. Podmínkou jejich správné funkce je koherence vstupního a referenčního signálu. Jejich funkce je většinou demonstrována na silně zjednodušeném modelu, zdaleka nevystihujícím jejich podstatu, možné aplikace a případná omezení. V průběhu semináře bude ukázán jejich hlubší teoretický základ založený na metodách odhadu parametrů signálu, jejich přístrojová realizace a typické aplikace. 

Seminář Metrologie měření zvuku a vibrací

Lektor: 

 doc. Dr. Ing. Pavel Němeček (Technická univerzita Liberec)

Datum akce: 
Pátek, 7. Říjen 2011 - 9:00 - 17:00

Metrologické zabezpečení systémů měření a kontroly je důležité z hlediska požadavků zákona a z hlediska zajištění jednotnosti a správnosti měření. Splnění požadavků legislativy je možné především kalibrací měřidel, případně jejich ověřením. Kvalita výsledku měření je pak vyčíslena pomocí nejistoty. Veličiny popsané amplitudou a frekvencí jsou specifické jak prováděním kalibrací, tak také stanovením a hodnocením zdrojů nejistot měření.

Seminář Návrh měřicích a řídicích systémů v prostředí LabVIEW a jejich HIL testování v prostředí Veristand

Lektor: 

Ing. Roman Vala (National Instruments)
Ing. Jiří Keprt, Ph.D. (National Instruments)

Datum akce: 
Pátek, 8. Duben 2011 - 9:00 - 17:00

Moderní měřicí a řídicí systémy jsou v dnešní době stále více kombinací HW a SW, vznikají tzv. virtuální systémy, mluvíme někdy též o virtuální instrumentaci. Uživatel si může s pomocí univerzálního hardware (např. vstup-výstupních modulů) a odpovídajícího software vytvářet přístroje a měřicí systémy s přesně definovanými vlastnostmi a není tak omezen jako dřív pouze na funkce, implementované  výrobcem konkrétního přístroje. Za předpokladu, že metrologické nároky na HW se nezvyšují,  je změna funkčních vlastností systému řešena obvykle pouze na úrovni změny SW, tzn. bez dalších dodatečných nákladů.

Cílem semináře je seznámit účastníky s možnostmi návrhu řídích systémů v grafickém  vývojovém prostředí LabVIEW. Popsána bude celá cesta od modelování, simulace, návrhu modelu regulátoru, možností spouštění v HW s Real-Time  operačním systémem a následně i testování systému pomoci HIL (Hardware In the Loop). 

Syndikovat obsah